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芯片恒溫恒試驗(yàn)箱出現(xiàn)壓縮機(jī)過(guò)流是什么原因
  • 日期:2024-03-21      瀏覽次數(shù):560
    • 芯片恒溫恒試驗(yàn)箱出現(xiàn)壓縮機(jī)過(guò)流是什么原因

          恒溫恒濕試驗(yàn)箱是一種可靠性環(huán)境檢測(cè)設(shè)備,,其主要功能是在模擬高溫、低溫、濕度等環(huán)境下對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試,。恒溫恒濕試驗(yàn)箱可以檢測(cè)產(chǎn)品質(zhì)量、材料研究和開(kāi)發(fā)、環(huán)境適應(yīng)性測(cè)試、可靠性測(cè)試等。

         在運(yùn)行恒溫恒濕試驗(yàn)箱測(cè)試的過(guò)程中,當(dāng)控制器上顯示壓縮機(jī)過(guò)流保護(hù)了。我們會(huì)認(rèn)為是壓縮機(jī)壞了,其實(shí)不然,可以咨詢專業(yè)的人員或者是廠家。出現(xiàn)壓縮機(jī)過(guò)流保護(hù),一般情況是熱續(xù)電器的問(wèn)題,可以自己先排除或者是咨詢專業(yè)的廠家。